生产厂家：美国赛默飞（FEI）

设备型号：Apreos

主要技术指标：

1.电压范围：800 V～30 kV（SEM）；

2.最佳分辨率：静电-磁复合末级透镜在 1 kV 电压下的分辨率为 1.0 nm； 

3.成像模式：二次电子或背散射；

4.测量倍数范围： 200~300000×

应用范围：

SEM广泛应用于复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、生物材料、电子材料等块体、片状、薄膜样品的微观形貌分析及其成份定性分析，是研究各种材料的超显微结构与性能关系不可缺少的工具。FEI Apreos是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类：磁浸没或静电。FEI Apreos将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均使电子束形成细小探针，以提高低电压下的分辨率，并使信号电子进入镜筒。通过将磁透镜和静电透镜组合成一个复合透镜，不但提高了分辨率，还增加了特有的信号过滤选项。

样品要求及测试说明：

1. 块体、片状、薄膜尺寸小于1*1*0.5 cm；粉末样品大于5 mg；

2. 块体、片状、薄膜样品请标注测试面；

3. 含水样品测试时均需干燥后测试；

4. 送样请先检测磁性并如实告知，因为磁性未说明损伤仪器，需要承担维修费用，本设备只测试非磁性样品和极微弱磁性样品（搅拌转子不吸引）。

5、能谱EDS备注理想区域，如有标尺要求请备注，如果没有备注，常规测试；

6、周期表中1-4号元素不能测试能谱；B、C、N、O、F等超轻元素能谱测试不准，望知晓；

7. 样品不能含有任何液体溶剂，同时具有放射性、易挥发性、不稳定的物质和强酸强碱性样品也无法测试，例如 S、Na、K 金属单质， Fe 块等。

测试项目及价格

（1）仅形貌观察（SEM）：

400元/小时，（根据经验，通常倍数在50000以下每小时可测3个样，50000-300000×由于样品性质不同，无法确定个数）。

（2）仅元素分析（EDS）：

EDS点分析：150元/每个样品，每个样品最多取3个点，超过后每增加一个点加收10元；

EDS线分析：175元/每1条线；

EDS面分析：200元/面分布/15分钟。

（3）形貌观察和元素分析（SEM+EDS）：

形貌观察：与仅形貌观察收费相同。

元素分析：EDS点分析75元/每个样品，限3个点，超过每点加收10元；

EDS线分析：100元/每1条线；

EDS面分析：125元/个面分布/15分钟。